Nume Element: Testul ratei de eroare a bitilor pentru comutatorul Serial Tip E

Interfețe: MIL-STD-1397C Tip E

Alimentare: Standard IEC 115 VCA

Control: Panou Frontal

Testerul XBER-4 pentru Sistemul de Date Tactice Navale (NTDS) Tip E Serial Switch testează calitatea canalelor de comutare transparente.

FX-4S montabil în rack oferă managerilor de sistem o flexibilitate de proiectare fără precedent pentru a interconecta echipamente la distanță ca și cum ar fi situate în același laborator. Unitatea este concepută pentru a satisface în mod rentabil nevoile unice ale mediilor actuale de dezvoltare, evaluare și antrenament NTDS.

CARACTERISTICI

- Precizie - Impedanța de 50 de ohmi este menținută pe întreaga cale a semnalului pentru a elimina reflexiile și fluctuațiile de tensiune

- Rată completă de Date - Operație simultană la rată completă de date pe toate canalele Seriale de Nivel Scăzut (LLS)

- Puternic - Realizează măsurarea directă a ratei efective de eroare a bitilor pe canalele LLS

- Detaliat - Testează independent toate cele patru căi de date asociate cu fiecare canal LLS NTDS

- Ușor de Utilizat - Controale pe panoul frontal inclusiv resetare, BERT Activat/Dezactivat, selectare canal, iluminare fundal LCD și selectare mod Pachet/Bit

- Ușor de Înțeles - Afișaj al stării și rezultatelor în limbaj simplu folosind două LCD-uri de 20 de caractere x 4 linii

- Montabil în Rack - Șasiu rezistent de 2U se potrivește în orice rack standard de 19"

- Semnal NTDS Vizibil - Punctele de testare de pe panoul frontal oferă acces la liniile de semnal NTDS pentru analize detaliate.